高光譜成像系統(tǒng)的組成和成像原理

高光譜成像技術的具體定義是在多光譜成像的基礎上，從紫外到近紅外（200-2500nm）的光譜范圍內，利用成像光譜儀，在光譜覆蓋范圍內的數十或數百條光諧波段對目標物體連續(xù)成像。本文從高光譜成像方式的角度簡單介紹了高光譜成像系統(tǒng)的組成和成像原理。

光柵分光光譜儀

空間中的一維信息通過鏡頭和狹縫后，不同波長的光按照不同程度的彎散傳播，這一維圖像上的每個點，再通過光柵進行衍射分光，形成一個譜帶，照射到探測器上，探測器上的每個像素位置和強度表征光譜和強度。一個點對應一個譜段，一條線就對應一個譜面，因此探測器每次成像是空間一條線上的光譜信息，為了獲得空間二維圖像再通過機械推掃，完成整個平面的圖像和光譜數據采集。如下圖所示。

經過狹縫的光由于不同波長照射到不同的探測器像元上，光能量很低，因此需要選擇高靈敏相機，同時需要加光源。例如系統(tǒng)如下：

光源相機（成像光譜儀+ccd）裝備有圖像采集卡的計算機是高光譜成像技術的硬件組成，其光譜的覆蓋范圍為200-400nm，400-1000nm，900-1700nm，1000-2500nm。其中光譜相機的主要組成部分為準直鏡，光柵光譜儀，聚焦透鏡以及面陣ccd。

其掃描過程是當ccd探測器在光學焦面的垂直方向上做橫向掃描（x），當橫向的平行光垂直入射到投身光柵是就形成了光柵光譜，這是像元經過高光譜儀在ccd上得出的數據，它的橫向式x方向上的像素點也就是掃描的象元，它的總像是各像元對應的信息。在檢測系統(tǒng)輸送前進是排列的他測器完成縱向掃面（y）。綜合掃描信息即可得到物體的三圍高光譜數據。

聲光可調諧濾波分光（AOTF）光譜儀

AOTF由聲光介質、換能器和聲終端三部分組成。射頻驅動信號通過換能器在聲光介質內激勵出超聲波。改變射頻驅動信號的頻率，可以改變AOTF衍射光的波長，從而實現電調諧波長的掃描。

最常用的AOTF晶體材料為TeO2即非共線晶體，也就是說光波通過晶體之后以不同的出射角傳播。如上圖所示：在晶體前端有一個換能器，作用于不同的驅動頻率，產生不同頻率的振動即聲波。不同的驅動頻率對應于不同振動的聲波，聲波通過晶體TeO2之后，使晶體中晶格產生了布拉格衍射，晶格更像一種濾波器，使晶體只能通過一種波長的光。光進入晶體之后發(fā)生衍射，產生衍射光和零級光。

上圖是AOTF的組成。由圖可知，AOTF是由成像物鏡+準直鏡+偏振片+晶體+偏振片+物鏡+detector，入射光經過物鏡會聚之后進入準平行鏡（把所有的入射光變成平行光），準平行光進入偏振片通過同一方向的傳播的光，平行光進入晶體之后，平行于光軸的光按照原來方向前行，非平行光進行衍射，分成兩束相互垂直o光和e光（入射光的波長不同經過晶體之后的o光與e光的角度也不同，因此在改變波長的過程中，圖像會出現漂移）；o光和e光及0級光分別會聚在不同的面上。如下圖所示：

為了保證入射光經過準平行鏡之后能夠完全變化成平行光，因此對前端的物鏡視場角有一定的要求，根據晶體的xxx角，可算出物鏡最大的視場角，小于最大視場角的情況，成像ok，如果大于視場角，則會造成重影（衍射光與0級光都進入了sensor）。可在晶體的出光口加入遮擋片，即遮擋0級光，避免與衍射光一起進入sensor，以免造成重影現象。同時，對聚光準直系統(tǒng)的優(yōu)化有兩個方面：1.提高光源的聚光效果，2.減小聚光準直系統(tǒng)的外形尺寸。

棱鏡分光光譜儀

入射光通過棱鏡后被分成不同的方向，然后照射到不同方向的探測器上進行成像。棱鏡分光后，在棱鏡的出射面鍍了不同波段的濾光膜，使得不同方向的探測器可以采集到不同光譜信息，實現同時采集空間及光譜信息。

芯片鍍膜光譜儀

近年來，IMEC（歐洲微電子研究中心）采用高靈敏CCD芯片及SCMOS芯片研制了一種新的高光譜成像技術，在探測器的像元上分別鍍不同波段的濾波膜實現高光譜成像，此技術大大降低了高光譜成像的成本。

目前IMEC提供三種標準的光譜探測器：100波帶的線掃描探測器，32波帶的瓷磚式鍍膜探測器，16波帶以4x4為一個波段的馬賽克式鍍膜探測器。

這種光譜技術的優(yōu)點是可以同時獲得光譜分辨率和空間分辨率，可以進行快速、高性能地獲得光譜信息和空間信息，集成度高，成本低。但是缺點是光譜靈敏度較低，一般大于10nm，多用于無人機等大范圍掃描的光譜應用領域。